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課程名稱 |
積體電路系統測試
Vlsi System Testing |
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開課學期 |
112-1 |
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授課對象 |
電機資訊學院 電子工程學研究所 |
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授課教師 |
黃俊郎 |
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課號 |
EEE5011 |
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課程識別碼 |
943EU0110 |
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班次 |
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學分 |
3.0 |
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全/半年 |
半年 |
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必/選修 |
選修 |
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上課時間 |
星期五7,8,9(14:20~17:20) |
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上課地點 |
博理212 |
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備註 |
本課程以英語授課。與張益興合授
總人數上限：20人 |
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課程簡介影片 |
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核心能力關聯 |
核心能力與課程規劃關聯圖 |
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課程大綱
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為確保您我的權利,請尊重智慧財產權及不得非法影印
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課程概述 |
.本課程介紹積體電路系統測試及技術，適合對VLSI設計與測試有興趣的同學修習。 |
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課程目標 |
使學生熟悉積體電路測試之基礎概念、現狀及未來挑戰。 |
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課程要求 |
1. 邏輯設計
2. 電子學 |
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預期每週課後學習時數 |
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Office Hours |
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指定閱讀 |
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參考書目 |
1. “Essentials of Electronic Testing”
Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal
Kluwer Academic Publishers
2. “High Performance Memory Testing”
R. Dean Adams, Kluwer Academic Publishers |
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評量方式
(僅供參考) |
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